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相容非概率信息的结构可靠性理论与方法

作者:孙文彩//杨自春| 出版社:国防科大
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  • 出版社:国防科大
  • ISBN:9787567306493
  • 作者:孙文彩//杨自春|
  • 页数:134
  • 出版日期:2024-05-01
  • 印刷日期:2024-05-01
  • 包装:平装
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:147千字